*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。
*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。

平行平晶技術(shù)要求